Карактеризација дебелослојних отпорних структура заснована на мерењима нискофреквентног шума / Characterization of thick-film resistors based on low-frequency noise measurements
Детаљни подаци о књизи
Naslov: Карактеризација дебелослојних отпорних структура заснована на мерењима нискофреквентног шума / Characterization of thick-film resistors based on low-frequency noise measurements
Izdavač: Задужбина Андрејевић
Strana: 121 (cb)
Pismo: ћирилица
Format: 17 x 24 cm
Godina izdanja: 2016
ISBN: 978-86-525-0263-9
Izdavač: Задужбина Андрејевић
Strana: 121 (cb)
Pismo: ћирилица
Format: 17 x 24 cm
Godina izdanja: 2016
ISBN: 978-86-525-0263-9
Ocene čitalacaPrijavite se za ocenu
Za sada nema ocena za ovo izdanje. Budite prvi koji će podeliti utiske!
Pitanja, odgovori, mišljenja
Imate pitanje? Prijavite se i učestvujte u diskusiji sa urednicima i čitaocima.
Još uvek nema postavljenih pitanja za ovo izdanje.
